三豐 MeasurLink 實時專業 3D
該軟件允許用戶從各種計量設備收集數據，例如卡尺、千分尺、指示器、CMM 和視覺系統。 數據採集界面實時顯示運行圖、控製圖、直方圖和統計數據。 它使用戶能夠執行變量和屬性檢查，以最大限度地提高產量並減少故障。
MITUTOYO
自 1934 年以來，三豐一直生產千分尺、卡尺、指示器和其他測量工具，用於對工具和設備進行精確的內外測量。 它的總部位於美國伊利諾伊州，其測量儀器可用於獲得宏觀和微觀物體的尺寸。 了解更多
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測量和佈局工具查看全部
卡尺配件 包括高品質的深度底座附件，旨在測量凹槽和孔的深度。 具有精細接地的基面和鎖定夾。 還提供用於測量中心線距離的中心量具附件
中心規 硬化鋼量規，用於通過 14 分、20 分、24 分和 32 分英寸的刻度來確定每英寸的螺紋數
深度千分尺 用於測量小孔和鑽孔的深度，並提供高精度的測量。 有不同的底座長度和桿直徑可供選擇。 還提供數字深度計和千分尺
卡尺 不銹鋼表卡尺設計用於測量內徑和外徑、深度和台階。 具有高防震保護，並配有用於錶盤邊框並固定滑動鉗口位置的鎖緊螺釘
撥號指示燈 包括 AGD 1 和 AGD 2 千分錶，旨在測量任何組件與預期標準的總體偏差。 採用無眩光平面水晶面，緊密附著在邊框上，以防止液體滲透。 有不同的錶盤尺寸和刻度可供選擇
數顯卡尺 使用上鉗口和下鉗口測量物體的內部和外部區域，並將結果顯示在 LCD 上。 具有調零控制功能以保持工具校準，並具有英寸/毫米控制按鈕以公製或英寸為單位進行測量
數字秤 為工件和機床工作台提供精確的水平/垂直線性測量和定位。 採用 LCD 顯示測量結果，可通過 SPC 端口捕獲到計算機
鑽孔規 鋼製鑽點量規可以測量 59 度角的鑽點。 具有可調節和可拆卸的鉤尺和滑動頭，並提供緞面鍍鉻飾面
硬度計配件 包括專為與 HH-300 系列 Hardmatic 硬度計配合使用而設計的高性能硬度計測試塊套件。 配備肖氏 A/D 標尺並配備 3 個模塊
硬度計 手持式模擬和數字硬度計，用於測量聚酯、丁腈、乙烯基、PVC、天然橡膠、氯丁橡膠、皮革和聚苯乙烯的彈性。 具有肖氏 A/肖氏 D 標度，並提供 3.94 英寸和 7.09 英寸高度選項
邊緣和中心查找器 旨在幫助尋找鑽床和銑床上的主軸中心和工作點。 由鋼製成，有不同柄徑的單端和雙端型號
電子數字指示器 適用於過程控制應用中的數據採集，可以輕鬆地將實際測量結果傳輸到 PC 或打印機，操作員在讀取或記錄時不會出現錯誤
塞尺 鋼製塞尺用於測量兩個難以觸及的平坦表面之間的間隙寬度。 有 4 英寸和 6 英寸刀片長度可供選擇
量塊/箝位監控大師 矩形和方形量塊旨在幫助校准其他測量儀器，例如千分尺和卡尺。 測量範圍為 0.050 - 4 英寸，並提供不同的高度、長度和標稱尺寸
硬度測試儀 高度計 硬化鋼量規是標記待加工工件高度的理想選擇。 具有SPC輸出，帶箱形夾具的精細進給調整和硬質合金刀頭劃線器
鑽孔和線規 包括高質量的線規和孔規，分別用於測量線和孔的直徑。 由鋼製成，有不同的長度和測量範圍。 還提供耐用的鑽規和小孔規套件
指示器支架底座和支架 重型三豐磁性支架、底座和指示器支架與所有千分錶和千分錶測試指示器兼容。 具有可即時安裝和拆卸的開/關開關
內部千分尺 非常適合測量氣缸、螺母、襯套、軸承和管子的內部尺寸。 具有硬質合金測量面、IP65 防水、功能鎖和輸出端口
千分尺配件 包括球形附件和千分尺支架，可幫助精確測量管壁的厚度。 非常適合與主軸直徑為 0.25 英寸的外徑千分尺一起使用
千分尺頭 與激光儀器、機械手、測量夾具和車床一起使用，用於調整、定位或測量應用。 選定型號（電子）具有歸零功能和用於顯示準確讀數的液晶屏
千分尺套裝 機械外徑千分尺套件設計用於測量小零件的外徑或厚度。 具有恆力機構的頂針，可防止主軸接觸被測物體表面時擰緊
千分尺 顯微鏡配件 Parallels的 精密測量配件 精密測量工具套件 量角器 半徑規 環規 規則和直邊 螺距規 劃線器和探針 專業水平 特殊千分尺 表面測試儀配件 表面測試儀 伸縮規套裝 厚度計 游標卡尺
要考慮的事情
交叉參考替代品
Mitutoyo 測量儀器交叉引用了等效的 Starrett 和 Westward 卡尺和指示器。 因此，如果您正在尋找缺貨或過時的競爭對手商品，則很有可能 Raptor Supplies 具有同等的三豐產品。
運送地址
三豐測量儀器體積小，需要緊湊的包裝。 它們適合快遞運輸。
主要商品名稱
三豐 ABSOLUTE 數顯卡尺
這些卡尺上的ABS（絕對）刻度，上電後無需原點設置，具有瞬時響應速度。 使用 ORIG 可以隨時重置絕對原點位置...閱讀更多
三豐TAGLENS 變焦鏡頭
這些變焦鏡頭能夠同時聚焦不同高度和深度的物體。 當物品在移動時，它們在生產線上非常有效。 他們改進了檢查...閱讀更多
三豐競爭優勢
常问问题解答
如何測試千分尺的平整度？
- 可以使用靠在表面上的光學平面（或平行）來確定平面度。
- 計算測量面上在白光下可見的紅色干涉條紋的數量。
- 每個條紋代表高度的高度波長差（紅色為 0.32 微米）。
如何閱讀游標刻度？
- 檢查初級規模。
- 在零標記之前尋找最後一個可見的完整增量。
- 讀取二級刻度測量值（游標）。
- 分度刻度線與主刻度上的標記最接近。
- 結合兩個測量值。
雙目和三目顯微鏡與單目顯微鏡相比有何優勢？
雙目和三目顯微鏡有兩個目鏡用於觀察標本，而單目顯微鏡只有一個目鏡。 與單目鏡顯微鏡相比，這些顯微鏡更方便長期使用。